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檢測(cè)集成電路是否正常,可采用:邏輯分析法:所謂邏輯分析法是指若懷疑某一集成電路有問(wèn)題,可先測(cè)量該集成電路的輸入信號(hào)是否正常,再測(cè)量集成電路的輸出信號(hào)是否正常,若有輸入而無(wú)輸出,一般可判斷為該集成電路損壞。直流電阻比較法:直流電阻比較法是把要檢測(cè)的集成電路各引腳...
保證ic芯片的質(zhì)量:專業(yè)的ic芯片廠家對(duì)于ic芯片的生產(chǎn),在技術(shù)方面是有著很多的支持的,這個(gè)是千萬(wàn)忽視的細(xì)節(jié)和內(nèi)容,可以帶來(lái)的效果也會(huì)很高,服務(wù)質(zhì)量也是不錯(cuò),也可以保證ic芯片的質(zhì)量,可以滿足各個(gè)行業(yè)的使用需求,所以說(shuō)購(gòu)買支持也很高。生產(chǎn)效率更快:現(xiàn)在不少行業(yè)...
IC芯片的包裝對(duì)于產(chǎn)品的影響相對(duì)較小,但是也是不容忽視的一個(gè)環(huán)節(jié),產(chǎn)品的包裝對(duì)于 IC芯片廠家來(lái)說(shuō)需要精心的進(jìn)行設(shè)計(jì),選擇材質(zhì)好耐用的包裝。IC芯片廠家的生產(chǎn)難度相對(duì)來(lái)說(shuō)是比較高的,因?yàn)镮C芯片產(chǎn)品對(duì)于工藝的要求比較高,所以在相關(guān)問(wèn)題把控過(guò)程中也比較嚴(yán)格,需要...
IC芯片外觀檢測(cè)的方法有三種:一是傳統(tǒng)的手工檢測(cè)方法,主要靠目測(cè),手工分檢,可靠性不高,檢測(cè)效率較低,勞動(dòng)強(qiáng)度大,檢測(cè)缺陷有疏漏,無(wú)法適應(yīng)大批量生產(chǎn)制造;二是基于激光測(cè)量技術(shù)的檢測(cè)方法,該方法對(duì)設(shè)備的硬件要求較高,成本相應(yīng)較高,設(shè)備故障率高,維護(hù)較為困難;三是...
超大規(guī)模IC芯片:21世紀(jì)之后,尤其是2010年前后,很多電子產(chǎn)品使用的芯片都是超大規(guī)模的,這種芯片的集成度十分夸張,晶體管數(shù)量基本都在100萬(wàn)甚至達(dá)到千萬(wàn),因此,它們的制程工藝都達(dá)到了20nm的級(jí)別,有的甚至能夠達(dá)到10nm的級(jí)別,你很難想象在一塊只有平方厘...
集成電路按其功能、結(jié)構(gòu)的不同,可以分為模擬集成電路和數(shù)字集成電路兩大類。模擬集成電路用來(lái)產(chǎn)生、放大和處理各種模擬信號(hào)(指幅度隨時(shí)間邊疆變化的信號(hào)。例如半導(dǎo)體收音機(jī)的音頻信號(hào)、錄放機(jī)的磁帶信號(hào)等),而數(shù)字集成電路用來(lái)產(chǎn)生、放大和處理各種數(shù)字信號(hào)(指在時(shí)間上和幅度...
IC芯片設(shè)計(jì)第1步,訂定目標(biāo):在IC設(shè)計(jì)中,重要的步驟就是規(guī)格制定。這個(gè)步驟就像是在設(shè)計(jì)建筑前,先決定要幾間房間、浴室,有什么建筑法規(guī)需要遵守,在確定好所有的功能之后在進(jìn)行設(shè)計(jì),這樣才不用再花額外的時(shí)間進(jìn)行后續(xù)修改。IC設(shè)計(jì)也需要經(jīng)過(guò)類似的步驟,才能確保設(shè)計(jì)出...
IC芯片的制造經(jīng)歷了半個(gè)多世紀(jì)的發(fā)展,在第1臺(tái)計(jì)算機(jī)“埃尼阿克”誕生之初,社會(huì)上并沒(méi)有芯片這樣的說(shuō)法,埃尼阿克也只是使用簡(jiǎn)單的電路來(lái)進(jìn)行工作的,而且這些電路都非?;A(chǔ),沒(méi)有集成,因此,當(dāng)時(shí)的電路規(guī)模是非常大的,占用空間也很大,同時(shí)工作效率也很低,能夠進(jìn)行簡(jiǎn)單的...
電子變壓器的檢測(cè):通過(guò)觀察變壓器的外貌來(lái)檢查其是否有明顯異?,F(xiàn)象。如線圈引線是否斷裂,脫焊,絕緣材料是否有燒焦痕跡,鐵心緊固螺桿是否有松動(dòng),硅鋼片有無(wú)銹蝕,繞組線圈是否有外露等。絕緣性測(cè)試。用萬(wàn)用表R×10k擋分別測(cè)量鐵心與初級(jí),初級(jí)與各次級(jí)、鐵心與各次級(jí)、靜...
檢測(cè)集成電路是否正常,可采用:邏輯分析法:所謂邏輯分析法是指若懷疑某一集成電路有問(wèn)題,可先測(cè)量該集成電路的輸入信號(hào)是否正常,再測(cè)量集成電路的輸出信號(hào)是否正常,若有輸入而無(wú)輸出,一般可判斷為該集成電路損壞。直流電阻比較法:直流電阻比較法是把要檢測(cè)的集成電路各引腳...
ic芯片是一種特別型號(hào)的技術(shù)研究成果,因?yàn)閕c芯片的大量發(fā)展,正式進(jìn)入電源芯片的研究領(lǐng)域,采購(gòu)方面需要多重注意,人們不斷的以電源管理來(lái)保持ic電源芯片的采購(gòu)方法,下面來(lái)看看ic芯片采購(gòu)需要注意的方面與基本,選擇方法。ic芯片的采購(gòu)成本方面的注意:首先ic芯片是...
數(shù)字集成電路是將元器件和連線集成于同一半導(dǎo)體芯片上而制成的數(shù)字邏輯電路或系統(tǒng)。根據(jù)數(shù)字集成電路中包含的門電路或元器件數(shù)量,可將數(shù)字集成電路分為小規(guī)模集成(SSI)電路、中規(guī)模集成(MSI)電路、大規(guī)模集成(LSI)電路、超大規(guī)模集成(VLSI)電路和特大規(guī)模集...
IC芯片選擇因素:電源管理的范疇比較廣,既包括單獨(dú)的電能變換(主要是直流到直流,即DC/DC),單獨(dú)的電能分配和檢測(cè),也包括電能變換和電能管理相結(jié)合的系統(tǒng)。相應(yīng)的,電源管理芯片的分類也包括這些方面,比如線性電源芯片、電壓基準(zhǔn)芯片、開(kāi)關(guān)電源芯片、LCD驅(qū)動(dòng)芯片、...
音響用集成電路包括AM/FM高中頻電路、立體聲解碼電路、音頻前置放大電路、音頻運(yùn)算放大集成電路、音頻功率放大集成電路、環(huán)繞聲處理集成電路、電平驅(qū)動(dòng)集成電路、電子音量控制集成電路、延時(shí)混響集成電路、電子開(kāi)關(guān)集成電路等。影碟機(jī)用集成電路有系統(tǒng)控制集成電路、視頻編碼...
電子元器件的電極引線要無(wú)壓折和彎曲,鍍層要完好光潔,無(wú)氧化銹蝕。檢查電子元器件的外觀必須完好,表面有無(wú)凹陷、劃傷、裂紋等缺陷,外部如有涂層的元器件必須無(wú)脫落和擦傷。電子元器件上的型號(hào)、規(guī)格標(biāo)記要清晰、完整,色標(biāo)位置、顏色要滿足標(biāo)準(zhǔn),應(yīng)認(rèn)真檢查集成電路上的字符。...
集成電路使用單晶硅晶圓(或III-V族,如砷化鎵)用作基層,然后使用光刻、摻雜、CMP等技術(shù)制成MOSFET或BJT等組件,再利用薄膜和CMP技術(shù)制成導(dǎo)線,如此便完成芯片制作。因產(chǎn)品性能需求及成本考量,導(dǎo)線可分為鋁工藝(以濺鍍?yōu)橹鳎┖豌~工藝(以電鍍?yōu)橹鲄⒁?jiàn)Da...
硬故障給電路帶來(lái)的損壞如果不經(jīng)維修便是長(zhǎng)久性且不可自行恢復(fù)的,通常集成電路芯片故障檢測(cè)必需的模塊有三個(gè):源激勵(lì)模塊,觀測(cè)信息采集模塊和檢測(cè)模塊。源激勵(lì)模塊用于將測(cè)試向量輸送給集成電路芯片,以驅(qū)使芯片進(jìn)入各種工作模式。故,通常希望測(cè)試向量集能盡量多得包含所有可能...
檢測(cè)集成電路是否正常,可采用:邏輯分析法:所謂邏輯分析法是指若懷疑某一集成電路有問(wèn)題,可先測(cè)量該集成電路的輸入信號(hào)是否正常,再測(cè)量集成電路的輸出信號(hào)是否正常,若有輸入而無(wú)輸出,一般可判斷為該集成電路損壞。直流電阻比較法:直流電阻比較法是把要檢測(cè)的集成電路各引腳...
連接器應(yīng)具有低且恒定的接觸電阻,一般是幾十mΩ至數(shù)百mΩ。環(huán)境性能:連接器環(huán)境性能主要包括:耐溫、耐濕、耐鹽霧、振動(dòng)、沖擊等。根據(jù)具體的應(yīng)用環(huán)境選擇。如應(yīng)用環(huán)境較為潮濕時(shí),對(duì)于連接器的耐濕、耐鹽霧要求就高,避免連接器的金屬觸點(diǎn)被銹蝕。在工控領(lǐng)域,對(duì)連接器抗振動(dòng)...
對(duì)射頻同軸連接器而言,有特性阻抗、插入損耗、反射系數(shù)、電壓駐波比(VSWR)等電氣指標(biāo)。由于數(shù)字技術(shù)的發(fā)展,為了連接和傳輸高速數(shù)字脈沖信號(hào),出現(xiàn)了一類新型的連接器即高速信號(hào)連接器,相應(yīng)地,在電氣性能方面,除特性阻抗外,還出現(xiàn)了一些新的電氣指標(biāo),如串?dāng)_(cros...
IC芯片檢測(cè)時(shí)萬(wàn)用表置于交流電壓擋,正表筆插入db插孔;對(duì)于無(wú)插孔的萬(wàn)用表,需要在正表筆串接一只0.1~0.5μf隔直電容。該法適用于工作頻率較低的ic,如電視機(jī)的視頻放大級(jí)、場(chǎng)掃描電路等。由于這些電路的固有頻率不同,波形不同,所以所測(cè)的數(shù)據(jù)是近似值,只能供參...
晶體三極管主要用于放大電路中起放大作用,在常見(jiàn)電路中有三種接法。為了便于比較,將晶體管三種接法電路所具有的特點(diǎn)列于下,名稱共發(fā)射極電路共集電極電路(射極輸出器)共基極電路。場(chǎng)效應(yīng)晶體管:場(chǎng)效應(yīng)晶體管具有較高輸入阻抗和低噪聲等優(yōu)點(diǎn),因而也被普遍應(yīng)用于各種電子設(shè)備...
由于連接器大量采用插拔式連接,其連接的可靠性、接觸點(diǎn)電阻的大小對(duì)于產(chǎn)品的質(zhì)量來(lái)說(shuō)就越來(lái)越重要,因此必須對(duì)所采用的連接器的性能進(jìn)行了解,以便合理正確地使用連接器。連接器的結(jié)構(gòu)和產(chǎn)品分類:連接器的基本結(jié)構(gòu):接觸件:它是連接器完成電連接功能的關(guān)鍵零件,一般由陽(yáng)極接觸...
一般對(duì)電路中IC芯片的檢查判斷方法有兩種:一是不在線判斷,即電路中IC未焊入印刷電路板的判斷。這種方法在沒(méi)有專屬儀器設(shè)備的情況下,要確定該電路中IC的質(zhì)量好壞是很困難的,一般情況下可用直流電阻法測(cè)量各引腳對(duì)應(yīng)于接地腳間的正反向電阻值,并和完好集成電路進(jìn)行比較,...
膜集成電路又分類厚膜集成電路和薄膜集成電路。按集成度高低分類集成電路按規(guī)模大小分為:小規(guī)模集成電路(SSI)、中規(guī)模集成電路(MSI)、大規(guī)模集成電路(LSI)、超大規(guī)模集成電路(VLSI)、特大規(guī)模集成電路(ULSI)。按導(dǎo)電類型不同分類集成電路按導(dǎo)電類型可...
IC芯片中的晶體管分兩種狀態(tài):開(kāi)、關(guān),平時(shí)使用1、0來(lái)表示,然后通過(guò)1和0來(lái)傳遞信號(hào),傳輸數(shù)據(jù)。芯片在通電之后就會(huì)產(chǎn)生一個(gè)啟動(dòng)指令,所有的晶體管就會(huì)開(kāi)始傳輸數(shù)據(jù),將特定的指令和數(shù)據(jù)輸出。IC芯片的集成度:IC芯片的集成度是指單塊芯片上所容納的元件數(shù)目。集成度越...
因?yàn)榇蠖嗖捎玫氖撬芰?,散熱效果較差,無(wú)法滿足現(xiàn)行高速芯片的要求。因此,使用雙排直立式封裝的,大多是歷久不衰的芯片,或是對(duì)運(yùn)作速度沒(méi)那么要求且芯片較小、接孔較少的IC芯片。芯片需要做哪些測(cè)試呢?主要分三大類:芯片功能測(cè)試、性能測(cè)試、可靠性測(cè)試,芯片產(chǎn)品要上市三大...
電子元器件的電極引線要無(wú)壓折和彎曲,鍍層要完好光潔,無(wú)氧化銹蝕。檢查電子元器件的外觀必須完好,表面有無(wú)凹陷、劃傷、裂紋等缺陷,外部如有涂層的元器件必須無(wú)脫落和擦傷。電子元器件上的型號(hào)、規(guī)格標(biāo)記要清晰、完整,色標(biāo)位置、顏色要滿足標(biāo)準(zhǔn),應(yīng)認(rèn)真檢查集成電路上的字符。...
由于歐姆擋刻度的非線性關(guān)系,它的中間一段分度較為精細(xì),因此應(yīng)使指針指示值盡可能落到刻度的中段位置,即全刻度起始的20%~80%弧度范圍內(nèi),以使測(cè)量更準(zhǔn)確。根據(jù)電阻誤差等級(jí)不同。讀數(shù)與標(biāo)稱阻值之間分別允許有±5%、±10%或±20%的誤差。如不相符,超出誤差范圍...
在不同類型ic芯片廠家當(dāng)中,建議大家一定要從實(shí)際角度出發(fā),根據(jù)實(shí)際需求進(jìn)行判斷和對(duì)比之后,就能了解到底哪個(gè)廠家生產(chǎn)的產(chǎn)品符合自己要求標(biāo)準(zhǔn)。在價(jià)格定位方面還要合理,性價(jià)比要達(dá)到很高標(biāo)準(zhǔn)。為了確定ic芯片廠家哪個(gè)好就要多選擇幾個(gè)廠家對(duì)比,同時(shí)還需要了解該廠家在行業(yè)...