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DDR3（Double Data Rate 3）是一種常見的動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器（DRAM）標(biāo)準(zhǔn)，它定義了數(shù)據(jù)傳輸和操作時(shí)的時(shí)序要求。以下是DDR3規(guī)范中常見的時(shí)序要求： 初始時(shí)序（Initialization Timing）tRFC：內(nèi)存行刷新周期，...

DDR3拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)規(guī)劃：Fly?by拓?fù)溥€是T拓?fù)? DDR1/2控制命令等信號(hào)，均采用T拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)。到了 DDR3,由于信號(hào)速率提升，當(dāng)負(fù) 載較多如多于4個(gè)負(fù)載時(shí)，T拓?fù)湫盘?hào)質(zhì)量較差，因此DDR3的控制命令和時(shí)鐘信號(hào)均釆用 Fly.by拓?fù)?。下面是在某?xiàng)...

單擊View Topology按鈕進(jìn)入SigXplorer拓?fù)渚庉嫮h(huán)境，可以按前面161節(jié)反射 中的實(shí)驗(yàn)所學(xué)習(xí)的操作去編輯拓?fù)溥M(jìn)行分析。也可以單擊Waveforms..按鈕去直接進(jìn)行反射和 串?dāng)_的布線后仿真。 在提取出來的拓?fù)渲?，設(shè)置Controll...

延遲測試：延遲測試旨在評(píng)估DDR5內(nèi)存模塊在讀取和寫入操作中的響應(yīng)延遲。通過讀取和寫入大量數(shù)據(jù)并測量所需的延遲時(shí)間，以確認(rèn)內(nèi)存模塊在給定延遲設(shè)置下的穩(wěn)定性。 容錯(cuò)機(jī)制測試：DDR5內(nèi)存模塊通常具備容錯(cuò)機(jī)制，如ECC（錯(cuò)誤檢測與糾正碼）功能。進(jìn)行相應(yīng)的...

檢查設(shè)備設(shè)置：在RJ45測試過程中，還請(qǐng)確保相關(guān)設(shè)備的設(shè)置正確。例如，在計(jì)算機(jī)上，確保網(wǎng)絡(luò)適配器的驅(qū)動(dòng)程序已安裝正確，網(wǎng)絡(luò)設(shè)置符合要求，如IP地址、子網(wǎng)掩碼、網(wǎng)關(guān)等。如果設(shè)置有誤，進(jìn)行必要的更改和調(diào)整。檢查網(wǎng)絡(luò)設(shè)備：如果RJ45測試出現(xiàn)故障，還應(yīng)該檢查其他網(wǎng)絡(luò)...

隨著數(shù)據(jù)速率的提高，芯片中的預(yù)加重和均衡功能也越來越復(fù)雜。比如在PCle 的1代和2代中使用了簡單的去加重(De-emphasis)技術(shù)，即信號(hào)的發(fā)射端(TX)在發(fā)送信 號(hào)時(shí)對(duì)跳變比特(信號(hào)中的高頻成分)加大幅度發(fā)送，這樣可以部分補(bǔ)償傳輸線路對(duì)高 頻成分的衰減...

ECC功能測試：DDR5支持錯(cuò)誤檢測和糾正（ECC）功能，測試過程包括注入和檢測位錯(cuò)誤，并驗(yàn)證內(nèi)存模塊的糾錯(cuò)能力和數(shù)據(jù)完整性。 功耗和能效測試：DDR5要求測試設(shè)備能夠準(zhǔn)確測量內(nèi)存模塊在不同負(fù)載和工作條件下的功耗。相關(guān)測試包括閑置狀態(tài)功耗、讀寫數(shù)據(jù)時(shí)...

DDR5（Double Data Rate 5），即雙倍數(shù)據(jù)率5代，是一種內(nèi)存技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)，作為一代的內(nèi)存標(biāo)準(zhǔn)，旨在提供更高的性能和容量。 背景：DDR5的發(fā)展背景可以追溯到之前的內(nèi)存標(biāo)準(zhǔn)，如DDR、DDR2、DDR3和DDR4。每一代DDR內(nèi)存標(biāo)準(zhǔn)都帶...

更大的內(nèi)存容量：DDR4內(nèi)存模塊支持更大的內(nèi)存容量。單個(gè)DDR4內(nèi)存模塊的容量可以達(dá)到32GB以上，甚至有高容量模塊達(dá)到128GB。這使得計(jì)算機(jī)系統(tǒng)能夠安裝更多內(nèi)存，同時(shí)處理更多的數(shù)據(jù)和任務(wù)，適應(yīng)大規(guī)模計(jì)算和復(fù)雜應(yīng)用場景。 改進(jìn)的時(shí)序配置：DDR4內(nèi)...

單擊Impedance Plot (expanded),展開顯示所有網(wǎng)絡(luò)走線的阻抗彩圖。雙擊彩圖 上的任何線段，對(duì)應(yīng)的走線會(huì)以之前定義的顏色在Layout窗口中高亮顯示。 單擊Impedance Table,可以詳細(xì)查看各個(gè)網(wǎng)絡(luò)每根走線詳細(xì)的阻抗相關(guān)...

抗噪聲和抗干擾測試：這些測試項(xiàng)目用于評(píng)估LVDS設(shè)備對(duì)于外部噪聲和干擾的抵抗能力。通過在測試環(huán)境中模擬或?qū)嶋H遭受噪聲和干擾，評(píng)估設(shè)備的抗干擾能力，以確保其在實(shí)際應(yīng)用中具備良好的信號(hào)完整性和可靠性。驅(qū)動(dòng)能力和傳輸距離測試：LVDS設(shè)備的驅(qū)動(dòng)能力和傳輸距離是其可靠...

LVDS發(fā)射端一致性測試的目的是確保LVDS發(fā)射器在發(fā)送數(shù)據(jù)時(shí)的穩(wěn)定性和一致性，以保證正常的信號(hào)傳輸和數(shù)據(jù)完整性。具體目的如下： 驗(yàn)證信號(hào)質(zhì)量：一致性測試旨在驗(yàn)證LVDS發(fā)射器輸出信號(hào)是否符合規(guī)定的電氣參數(shù)范圍，如信號(hào)幅度、波形、偏移、差分幅度和傳輸...

RJ45測試可以通過連通性測試和誤碼率（BER）測試來判斷錯(cuò)誤路徑。這些測試方法可以幫助您確定數(shù)據(jù)在傳輸過程中是否遇到了錯(cuò)誤路徑。連通性測試：連通性測試是常見的RJ45測試方法之一，用于檢測兩個(gè)設(shè)備之間的連接是否正常。測試儀器會(huì)向被測試的連接發(fā)送信號(hào)，并檢查是...

內(nèi)存容量和頻率范圍：DDR4內(nèi)存模塊的容量和工作頻率有多種選擇。目前市場上常見的DDR4內(nèi)存容量包括4GB、8GB、16GB、32GB和64GB等，更大的容量模塊也有可能出現(xiàn)。工作頻率通常從2133MHz開始，通過超頻技術(shù)可達(dá)到更高的頻率，如2400MHz...

DDRx接口信號(hào)的時(shí)序關(guān)系 DDR3的時(shí)序要求大體上和DDR2類似，作為源同步系統(tǒng)，主要有3組時(shí)序設(shè)計(jì)要求。 一組是DQ和DQS的等長關(guān)系，也就是數(shù)據(jù)和選通信號(hào)的時(shí)序；一組是CLK和ADDR/CMD/ CTRL的等長關(guān)系，也就是時(shí)鐘和地址控制總線的關(guān)...

DDR5內(nèi)存測試方法通常包括以下幾個(gè)方面： 頻率測試：頻率測試是評(píng)估DDR5內(nèi)存模塊的傳輸速率和穩(wěn)定性的關(guān)鍵部分。通過使用基準(zhǔn)測試軟件和工具，可以進(jìn)行頻率掃描、時(shí)序調(diào)整和性能評(píng)估，以確定DDR5內(nèi)存模塊的比較高穩(wěn)定傳輸頻率。 時(shí)序窗口分析：時(shí)序...

數(shù)據(jù)中心和云計(jì)算服務(wù)提供商：數(shù)據(jù)中心和云計(jì)算服務(wù)提供商依賴于高性能和可靠的內(nèi)存系統(tǒng)。對(duì)于他們來說，DDR5測試是確保數(shù)據(jù)中心和云計(jì)算服務(wù)器的穩(wěn)定性和可靠性的重要環(huán)節(jié)。他們需要對(duì)DDR5內(nèi)存模塊進(jìn)行全部的測試，包括性能測試、負(fù)載測試、容錯(cuò)測試等，以確保內(nèi)存子...

DDR 系統(tǒng)概述 DDR 全名為 Double Data Rate SDRAM ，簡稱為 DDR。DDR 本質(zhì)上不需要提高時(shí)鐘頻率就能加倍提高 SDRAM 的速度，它允許在時(shí)鐘的上升沿和下降沿讀/寫數(shù)據(jù)，因而其數(shù)據(jù)速率是標(biāo)準(zhǔn) SDRAM 的兩倍，至于...

行預(yù)充電時(shí)間（tRP，Row Precharge Time）：行預(yù)充電時(shí)間指的是執(zhí)行下一個(gè)行操作之前需要在當(dāng)前行操作之后等待的時(shí)間。它表示內(nèi)存模塊關(guān)閉當(dāng)前行并預(yù)充電以準(zhǔn)備接收新的行指令的速度。常見的行預(yù)充電時(shí)間參數(shù)包括tRP 16、tRP 15、tRP 1...

增大容量：DDR5支持更大的內(nèi)存容量，每個(gè)內(nèi)存模塊的容量可達(dá)到128GB。這對(duì)于需要處理大規(guī)模數(shù)據(jù)集或高性能計(jì)算的應(yīng)用非常有用。 高密度組件：DDR5采用了更高的內(nèi)存集成度，可以實(shí)現(xiàn)更高的內(nèi)存密度，減少所需的物理空間。 更低的電壓：DDR5使用...

DDR3： DDR3釆用SSTL_15接口，I/O 口工作電壓為1.5V；時(shí)鐘信號(hào)頻率為400? 800MHz；數(shù)據(jù)信號(hào)速率為800?1600Mbps,通過差分選通信號(hào)雙沿釆樣；地址/命令/控制信 號(hào)在1T模式下速率為400?800Mbps,在2T模式下速率為...

還可以給這個(gè)Bus設(shè)置一個(gè)容易區(qū)分的名字，例如把這個(gè)Byte改為ByteO,這樣就把 DQ0-DQ7, DM和DQS, DQS與Clock的總線關(guān)系設(shè)置好了。 重復(fù)以上操作，依次創(chuàng)建：DQ8?DQ15、DM1信號(hào)；DQS1/NDQS1選通和時(shí)鐘 CK...

DDR3拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)規(guī)劃：Fly?by拓?fù)溥€是T拓?fù)? DDR1/2控制命令等信號(hào)，均采用T拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)。到了 DDR3,由于信號(hào)速率提升，當(dāng)負(fù) 載較多如多于4個(gè)負(fù)載時(shí)，T拓?fù)湫盘?hào)質(zhì)量較差，因此DDR3的控制命令和時(shí)鐘信號(hào)均釆用 Fly.by拓?fù)?。下面是在某?xiàng)...

單擊View Topology按鈕進(jìn)入SigXplorer拓?fù)渚庉嫮h(huán)境，可以按前面161節(jié)反射 中的實(shí)驗(yàn)所學(xué)習(xí)的操作去編輯拓?fù)溥M(jìn)行分析。也可以單擊Waveforms..按鈕去直接進(jìn)行反射和 串?dāng)_的布線后仿真。 在提取出來的拓?fù)渲?，設(shè)置Controll...

DDR3信號(hào)質(zhì)量問題及仿真解決案例隨著DDR信號(hào)速率的升高，信號(hào)電平降低，信號(hào)質(zhì)量問題也會(huì)變得突出。比如DDR1的數(shù)據(jù)信號(hào)通常用在源端加上匹配電阻來改善波形質(zhì)量；DDR2/3/4會(huì)將外部電阻變成內(nèi)部ODT；對(duì)于多負(fù)載的控制命令信號(hào)，DDR1/2/3可以在末端添...

瀏覽選擇控制器的IBIS模型，切換到Bus Definition選項(xiàng)卡，單擊Add按鈕添加一 組新的Buso選中新加的一行Bus使其高亮，將鼠標(biāo)移動(dòng)到Signal Names下方高亮處，單擊 出現(xiàn)的字母E,打開Signal列表。勾選組數(shù)據(jù)和DM信號(hào)，單擊0...

隨機(jī)訪問速度（Random Access Speed）：隨機(jī)訪問速度是內(nèi)存模塊隨機(jī)讀寫數(shù)據(jù)的速度。常用的測試方法包括：3D Mark等綜合性能測試工具：這些工具中包含一些模塊化的測試場景，其中包括隨機(jī)訪問測試，用于評(píng)估內(nèi)存的隨機(jī)訪問速度。穩(wěn)定性和耐久性：穩(wěn)定性...

走線阻抗/耦合檢查 走線阻抗/耦合檢查流程在PowerSI和SPEED2000中都有，流程也是一樣的。本例通過 Allegro Sigrity SI 啟動(dòng) Trace Impedance/Coupling Check,自動(dòng)調(diào)用 PowerSI 的流程...

多數(shù)電子產(chǎn)品，從智能手機(jī)、PC到服務(wù)器，都用著某種形式的RAM存儲(chǔ)設(shè)備。由于相 對(duì)較低的每比特的成本提供了速度和存儲(chǔ)很好的結(jié)合，SDRAM作為大多數(shù)基于計(jì)算機(jī)產(chǎn)品 的主流存儲(chǔ)器技術(shù)被廣泛應(yīng)用于各種高速系統(tǒng)設(shè)計(jì)中。 DDR是雙倍數(shù)率的SDRAM內(nèi)存接口...

當(dāng)遇到DDR4內(nèi)存故障時(shí)，以下是一些建議的常見故障診斷和排除方法：清理內(nèi)存插槽：首先，確保內(nèi)存插槽沒有灰塵或臟污。使用無靜電的氣體噴罐或棉簽輕輕清潔內(nèi)存插槽。更換插槽和內(nèi)存條位置：嘗試將內(nèi)存條移動(dòng)到不同的插槽位置。有時(shí)候插槽可能出現(xiàn)問題，或者在某些插槽上的連接...