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  • 自動(dòng)化數(shù)字信號(hào)測試高速信號(hào)傳輸
    自動(dòng)化數(shù)字信號(hào)測試高速信號(hào)傳輸

    要想得到零邊沿時(shí)間的理想方波,理論上是需要無窮大頻率的頻率分量。如果比較高只考慮到某個(gè)頻率點(diǎn)處的頻率分量,則來出的時(shí)域波形邊沿時(shí)間會(huì)蛻化,會(huì)使得邊沿時(shí)間增大。例如,一個(gè)頻率為500MHz的理想方波,其5次諧波分量是2500M,如果把5次諧波以內(nèi)所有分量成時(shí)...

    2024-03-07
  • 遼寧電氣完整性
    遼寧電氣完整性

    (2)阻抗匹配(impedance matching):信號(hào)源和接收器的輸入輸出端口阻抗不匹配,導(dǎo)致信號(hào)反射、信噪比下降等問題。 (3)噪聲(noise):干擾源、地線回流、耦合等問題導(dǎo)致的信號(hào)噪聲。 (4)時(shí)序誤差(timingerror):...

    2024-03-06
  • 北京PCI-E測試DDR一致性測試
    北京PCI-E測試DDR一致性測試

    通常我們會(huì)以時(shí)鐘為基準(zhǔn)對(duì)數(shù)據(jù)信號(hào)疊加形成眼圖,但這種簡單的方法對(duì)于DDR信 號(hào)不太適用。DDR總線上信號(hào)的讀、寫和三態(tài)都混在一起,因此需要對(duì)信號(hào)進(jìn)行分離后再進(jìn) 行測量分析。傳統(tǒng)上有以下幾種方法用來進(jìn)行讀/寫信號(hào)的分離,但都存在一定的缺點(diǎn)。 (1)根據(jù)...

    2024-03-05
  • PCI-E測試眼圖測量聯(lián)系方式
    PCI-E測試眼圖測量聯(lián)系方式

    對(duì)于眼圖的概念,有以下幾點(diǎn)比較重要: 眼圖是波形的疊加:眼圖的測量方法不是對(duì)單一波形或特定比特位置的波形參數(shù)進(jìn)行測量,而是把盡可能多的波形或比特疊加在一起,這樣可以看到信號(hào)的統(tǒng)計(jì)分布情況。只有差的信號(hào)都滿足我們對(duì)于信號(hào)的基本要求,才說明信號(hào)質(zhì)量是可以...

    2024-03-04
  • 中國臺(tái)灣電氣完整性測試流程
    中國臺(tái)灣電氣完整性測試流程

    電氣完整性(Electrical Integrity)指的是電路或系統(tǒng)在運(yùn)行過程中保持正常的電學(xué)特性,如電壓、電流、電阻等。電氣完整性的保持對(duì)于電路或系統(tǒng)的穩(wěn)定運(yùn)行非常重要,它能夠保證信號(hào)傳輸?shù)目煽啃?、抗干擾能力以及減少誤差率和能耗等問題。在電子設(shè)備和系統(tǒng)...

    2024-03-03
  • PCI-E測試電氣完整性維修
    PCI-E測試電氣完整性維修

    電氣完整性(Electrical Integrity)指的是電路或系統(tǒng)在運(yùn)行過程中保持正常的電學(xué)特性,如電壓、電流、電阻等。電氣完整性的保持對(duì)于電路或系統(tǒng)的穩(wěn)定運(yùn)行非常重要,它能夠保證信號(hào)傳輸?shù)目煽啃?、抗干擾能力以及減少誤差率和能耗等問題。在電子設(shè)備和系統(tǒng)...

    2024-03-02
  • 信號(hào)完整性測試電氣完整性測試流程
    信號(hào)完整性測試電氣完整性測試流程

    電氣完整性測試通常包括以下幾種類型: 1.傳輸線完整性測試:主要測試傳輸線電氣信號(hào)在傳輸過程中的完整性,包括傳輸線的阻抗、傳輸線的衰減、傳輸線的反射系數(shù)等。 2.時(shí)序完整性測試:主要測試電路設(shè)計(jì)中不同信號(hào)之間的時(shí)序關(guān)系是否符合要求,其中包括時(shí)鐘...

    2024-03-01
  • PCI-E測試高速電路測試維保
    PCI-E測試高速電路測試維保

    信號(hào)失真是指信號(hào)在傳輸過程中出現(xiàn)的幅度變化、頻率響應(yīng)畸變和時(shí)間偏移等失真現(xiàn)象,主要受信號(hào)頻率、傳輸距離和電路中元器件參數(shù)的影響。針對(duì)信號(hào)失真問題,常見的測試方法包括時(shí)域反射測試、頻率響應(yīng)測試和脈沖響應(yīng)測試等。 串?dāng)_是指信號(hào)之間由于電磁作用而產(chǎn)生的相互...

    2024-02-29
  • 自動(dòng)化信號(hào)完整性分析PCI-E測試
    自動(dòng)化信號(hào)完整性分析PCI-E測試

    信號(hào)完整性分析三種測試方法 在信號(hào)完整性分析中,常用的測試方法包括以下三種: 1.時(shí)域測試:時(shí)域測試是通過觀察信號(hào)在時(shí)間軸上的波形來分析信號(hào)完整性。時(shí)域測試可以幫助識(shí)別信號(hào)的上升時(shí)間、下降時(shí)間、瞬態(tài)響應(yīng)等參數(shù),從而評(píng)估信號(hào)是否存在失真。 ...

    2024-02-28
  • 吉林解決方案DDR一致性測試
    吉林解決方案DDR一致性測試

    DDR4/5與LPDDR4/5 的信號(hào)質(zhì)量測試 由于基于DDR顆?;駾DR DIMM的系統(tǒng)需要適配不同的平臺(tái),應(yīng)用場景千差萬別, 因此需要進(jìn)行詳盡的信號(hào)質(zhì)量測試才能保證系統(tǒng)的可靠工作。對(duì)于DDR4及以下的標(biāo)準(zhǔn) 來說,物理層一致性測試主要是發(fā)送的信號(hào)質(zhì)...

    2024-02-27
  • 信號(hào)完整性測試MIPI測試調(diào)試
    信號(hào)完整性測試MIPI測試調(diào)試

    MIPI-DS IMIPI-DSI是一種應(yīng)用于顯示技術(shù)的串行接口,兼容DPI(顯示像素接口,Display Pixel Interface)、DBI(顯示總線接口,Display Bus Interface)和DCS(顯示命令集,Display Co...

    2024-02-26
  • HDMI測試LPDDR4信號(hào)完整性測試DDR測試
    HDMI測試LPDDR4信號(hào)完整性測試DDR測試

    LPDDR4的排列方式和芯片布局具有以下特點(diǎn):2D排列方式:LPDDR4存儲(chǔ)芯片采用2D排列方式,即每個(gè)芯片內(nèi)有多個(gè)存儲(chǔ)層(Bank),每個(gè)存儲(chǔ)層內(nèi)有多個(gè)存儲(chǔ)頁(Page)。通過將多個(gè)存儲(chǔ)層疊加在一起,從而實(shí)現(xiàn)更高的存儲(chǔ)密度和容量,提供更大的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)能力。分段...

    2024-02-25
  • 自動(dòng)化LPDDR4信號(hào)完整性測試項(xiàng)目
    自動(dòng)化LPDDR4信號(hào)完整性測試項(xiàng)目

    存儲(chǔ)層劃分:每個(gè)存儲(chǔ)層內(nèi)部通常由多個(gè)的存儲(chǔ)子陣列(Subarray)組成。每個(gè)存儲(chǔ)子陣列包含了一定數(shù)量的存儲(chǔ)單元(Cell),用于存儲(chǔ)數(shù)據(jù)和元數(shù)據(jù)。存儲(chǔ)層的劃分和布局有助于提高并行性和訪問效率。鏈路和信號(hào)引線:LPDDR4存儲(chǔ)芯片中有多個(gè)內(nèi)部鏈路(Die-to...

    2024-02-25
  • 測量LPDDR4信號(hào)完整性測試系列
    測量LPDDR4信號(hào)完整性測試系列

    時(shí)鐘和信號(hào)的匹配:時(shí)鐘信號(hào)和數(shù)據(jù)信號(hào)需要在電路布局和連接中匹配,避免因信號(hào)傳輸延遲或抖動(dòng)等導(dǎo)致的數(shù)據(jù)傳輸差錯(cuò)。供電和信號(hào)完整性:供電電源和信號(hào)線的穩(wěn)定性和完整性對(duì)于精確的數(shù)據(jù)傳輸至關(guān)重要。必須保證有效供電,噪聲控制和良好的信號(hào)層面表現(xiàn)。時(shí)序參數(shù)設(shè)置:在系統(tǒng)設(shè)計(jì)...

    2024-02-25
  • 測試服務(wù)克勞德LPDDR4眼圖測試
    測試服務(wù)克勞德LPDDR4眼圖測試

    時(shí)鐘和信號(hào)的匹配:時(shí)鐘信號(hào)和數(shù)據(jù)信號(hào)需要在電路布局和連接中匹配,避免因信號(hào)傳輸延遲或抖動(dòng)等導(dǎo)致的數(shù)據(jù)傳輸差錯(cuò)。供電和信號(hào)完整性:供電電源和信號(hào)線的穩(wěn)定性和完整性對(duì)于精確的數(shù)據(jù)傳輸至關(guān)重要。必須保證有效供電,噪聲控制和良好的信號(hào)層面表現(xiàn)。時(shí)序參數(shù)設(shè)置:在系統(tǒng)設(shè)計(jì)...

    2024-02-24
  • 通信克勞德LPDDR4眼圖測試眼圖測試
    通信克勞德LPDDR4眼圖測試眼圖測試

    LPDDR4的錯(cuò)誤率和可靠性參數(shù)受到多種因素的影響,包括制造工藝、設(shè)計(jì)質(zhì)量、電壓噪聲、溫度變化等。通常情況下,LPDDR4在正常操作下具有較低的錯(cuò)誤率,但具體參數(shù)需要根據(jù)廠商提供的規(guī)格和測試數(shù)據(jù)來確定。對(duì)于錯(cuò)誤檢測和糾正,LPDDR4實(shí)現(xiàn)了ErrorCorre...

    2024-02-24
  • 測試服務(wù)LPDDR4信號(hào)完整性測試產(chǎn)品介紹
    測試服務(wù)LPDDR4信號(hào)完整性測試產(chǎn)品介紹

    時(shí)鐘和信號(hào)的匹配:時(shí)鐘信號(hào)和數(shù)據(jù)信號(hào)需要在電路布局和連接中匹配,避免因信號(hào)傳輸延遲或抖動(dòng)等導(dǎo)致的數(shù)據(jù)傳輸差錯(cuò)。供電和信號(hào)完整性:供電電源和信號(hào)線的穩(wěn)定性和完整性對(duì)于精確的數(shù)據(jù)傳輸至關(guān)重要。必須保證有效供電,噪聲控制和良好的信號(hào)層面表現(xiàn)。時(shí)序參數(shù)設(shè)置:在系統(tǒng)設(shè)計(jì)...

    2024-02-24
  • 通信克勞德LPDDR4眼圖測試安裝
    通信克勞德LPDDR4眼圖測試安裝

    LPDDR4是LowPowerDoubleDataRate4的縮寫,即低功耗雙數(shù)據(jù)率第四代。它是一種用于移動(dòng)設(shè)備的內(nèi)存技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)。LPDDR4集成了先進(jìn)的功耗管理技術(shù)和高性能的數(shù)據(jù)傳輸速率,使其適合用于智能手機(jī)、平板電腦、便攜式游戲機(jī)等移動(dòng)設(shè)備。LPDDR4相比...

    2024-02-23
  • 校準(zhǔn)克勞德LPDDR4眼圖測試執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)
    校準(zhǔn)克勞德LPDDR4眼圖測試執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)

    電路設(shè)計(jì)要求:噪聲抑制:LPDDR4的電路設(shè)計(jì)需要考慮噪聲抑制和抗干擾能力,以確保穩(wěn)定的數(shù)據(jù)傳輸。這可以通過良好的布線規(guī)劃、差分傳輸線設(shè)計(jì)和功耗管理來實(shí)現(xiàn)。時(shí)序和延遲校正器:LPDDR4的電路設(shè)計(jì)需要考慮使用適當(dāng)?shù)臅r(shí)序和延遲校正器,以確保信號(hào)的正確對(duì)齊和匹配。...

    2024-02-23
  • 南沙區(qū)設(shè)備LPDDR4信號(hào)完整性測試
    南沙區(qū)設(shè)備LPDDR4信號(hào)完整性測試

    電路設(shè)計(jì)要求:噪聲抑制:LPDDR4的電路設(shè)計(jì)需要考慮噪聲抑制和抗干擾能力,以確保穩(wěn)定的數(shù)據(jù)傳輸。這可以通過良好的布線規(guī)劃、差分傳輸線設(shè)計(jì)和功耗管理來實(shí)現(xiàn)。時(shí)序和延遲校正器:LPDDR4的電路設(shè)計(jì)需要考慮使用適當(dāng)?shù)臅r(shí)序和延遲校正器,以確保信號(hào)的正確對(duì)齊和匹配。...

    2024-02-23
  • 通信克勞德LPDDR4眼圖測試方案
    通信克勞德LPDDR4眼圖測試方案

    LPDDR4支持自適應(yīng)輸出校準(zhǔn)(AdaptiveOutputCalibration)功能。自適應(yīng)輸出校準(zhǔn)是一種動(dòng)態(tài)調(diào)整輸出驅(qū)動(dòng)器的功能,旨在補(bǔ)償信號(hào)線上的傳輸損耗,提高信號(hào)質(zhì)量和可靠性。LPDDR4中的自適應(yīng)輸出校準(zhǔn)通常包括以下功能:預(yù)發(fā)射/后發(fā)射(Pre-E...

    2024-02-22
  • 數(shù)字信號(hào)LPDDR4信號(hào)完整性測試眼圖測試
    數(shù)字信號(hào)LPDDR4信號(hào)完整性測試眼圖測試

    數(shù)據(jù)保持時(shí)間(tDQSCK):數(shù)據(jù)保持時(shí)間是指在寫操作中,在數(shù)據(jù)被寫入之后多久需要保持?jǐn)?shù)據(jù)穩(wěn)定,以便可靠地進(jìn)行讀操作。較長的數(shù)據(jù)保持時(shí)間可以提高穩(wěn)定性,但通常會(huì)增加功耗。列預(yù)充電時(shí)間(tRP):列預(yù)充電時(shí)間是指在發(fā)出下一個(gè)讀或?qū)懨钪氨仨毜却臅r(shí)間。較短的列...

    2024-02-22
  • 鹽田區(qū)PCI-E測試LPDDR4信號(hào)完整性測試
    鹽田區(qū)PCI-E測試LPDDR4信號(hào)完整性測試

    LPDDR4具備多通道結(jié)構(gòu)以實(shí)現(xiàn)并行存取,提高內(nèi)存帶寬和性能。LPDDR4通常采用雙通道(DualChannel)或四通道(QuadChannel)的配置。在雙通道模式下,LPDDR4的存儲(chǔ)芯片被分為兩個(gè)的通道,每個(gè)通道有自己的地址范圍和數(shù)據(jù)總線??刂破骺梢酝?..

    2024-02-22
  • 鹽田區(qū)儀器儀表測試LPDDR4信號(hào)完整性測試
    鹽田區(qū)儀器儀表測試LPDDR4信號(hào)完整性測試

    LPDDR4的錯(cuò)誤率和可靠性參數(shù)受到多種因素的影響,包括制造工藝、設(shè)計(jì)質(zhì)量、電壓噪聲、溫度變化等。通常情況下,LPDDR4在正常操作下具有較低的錯(cuò)誤率,但具體參數(shù)需要根據(jù)廠商提供的規(guī)格和測試數(shù)據(jù)來確定。對(duì)于錯(cuò)誤檢測和糾正,LPDDR4實(shí)現(xiàn)了ErrorCorre...

    2024-02-21
  • 數(shù)字信號(hào)克勞德LPDDR4眼圖測試檢測報(bào)告
    數(shù)字信號(hào)克勞德LPDDR4眼圖測試檢測報(bào)告

    為了應(yīng)對(duì)這些問題,設(shè)計(jì)和制造LPDDR4存儲(chǔ)器時(shí)通常會(huì)采取一些措施:精確的電氣校準(zhǔn)和信號(hào)條件:芯片制造商會(huì)針對(duì)不同環(huán)境下的溫度和工作范圍進(jìn)行嚴(yán)格測試和校準(zhǔn),以確保LPDDR4在低溫下的性能和穩(wěn)定性。這可能包括精確的時(shí)鐘和信號(hào)條件設(shè)置。溫度傳感器和自適應(yīng)調(diào)節(jié):部...

    2024-02-21
  • 羅湖區(qū)眼圖測試LPDDR4信號(hào)完整性測試
    羅湖區(qū)眼圖測試LPDDR4信號(hào)完整性測試

    相比之下,LPDDR3一般最大容量為8GB。低功耗:LPDDR4借助新一代電壓引擎技術(shù),在保持高性能的同時(shí)降低了功耗。相比于LPDDR3,LPDDR4的功耗降低約40%。這使得移動(dòng)設(shè)備能夠更加高效地利用電池能量,延長續(xù)航時(shí)間。更高的頻率:LPDDR4的工作頻率...

    2024-02-21
  • 信息化克勞德LPDDR4眼圖測試技術(shù)
    信息化克勞德LPDDR4眼圖測試技術(shù)

    LPDDR4的數(shù)據(jù)傳輸速率取決于其時(shí)鐘頻率和總線寬度。根據(jù)LPDDR4規(guī)范,它支持的比較高時(shí)鐘頻率為3200MHz,并且可以使用16、32、64等位的總線寬度。以比較高時(shí)鐘頻率3200MHz和64位總線寬度為例,LPDDR4的數(shù)據(jù)傳輸速率可以計(jì)算為:3200M...

    2024-02-20
  • 多端口矩陣測試克勞德LPDDR4眼圖測試USB測試
    多端口矩陣測試克勞德LPDDR4眼圖測試USB測試

    LPDDR4的時(shí)序參數(shù)對(duì)于功耗和性能都會(huì)產(chǎn)生影響。以下是一些常見的LPDDR4時(shí)序參數(shù)以及它們?nèi)绾斡绊懝暮托阅艿慕忉專簲?shù)據(jù)傳輸速率:數(shù)據(jù)傳輸速率是指在單位時(shí)間內(nèi),LPDDR4可以傳輸?shù)臄?shù)據(jù)量。較高的數(shù)據(jù)傳輸速率通常意味著更快的讀寫操作和更高的存儲(chǔ)器帶寬,能夠...

    2024-02-20
  • 福田區(qū)物理層測試LPDDR4信號(hào)完整性測試
    福田區(qū)物理層測試LPDDR4信號(hào)完整性測試

    LPDDR4并不支持高速串行接口(HSI)功能。相反,LPDDR4使用的是并行數(shù)據(jù)接口,其中數(shù)據(jù)同時(shí)通過多個(gè)數(shù)據(jù)總線傳輸。LPDDR4具有64位的數(shù)據(jù)總線,每次進(jìn)行讀取或?qū)懭氩僮鲿r(shí),數(shù)據(jù)被并行地傳輸。這意味著在一個(gè)時(shí)鐘周期內(nèi)可以傳輸64位的數(shù)據(jù)。與高速串行接口...

    2024-02-20
  • DDR測試高速電路測試HDMI測試
    DDR測試高速電路測試HDMI測試

    高速電路測試需要掌握的方面包括: 1.信號(hào)完整性:了解信號(hào)完整性與信號(hào)傳輸速率的關(guān)系,掌握在高速電路測試中的信號(hào)完整性測試點(diǎn)和測試參數(shù)。2.信號(hào)失真:了解信號(hào)失真的原因和分類,掌握常見的信號(hào)失真測試方法和測試參數(shù)。 3.串?dāng)_:了解串?dāng)_的原因和分...

    2024-02-19
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