辰儀陶瓷電容真空計(jì)是完全對(duì)標(biāo)英??档奶沾呻娙菡婵沼?jì)而開發(fā)的一款陶瓷膜片真空計(jì),已實(shí)現(xiàn)全系列部件國產(chǎn)化的陶瓷膜片真空計(jì),產(chǎn)品測(cè)量精度已達(dá)到和英福康一致水平。辰儀陶瓷電容真空計(jì)已在暖通、儲(chǔ)能、光伏、CVD等行業(yè)銷售,產(chǎn)品性能獲得客戶認(rèn)可。 辰儀陶瓷電容真...
皮拉尼真空計(jì)主要由感應(yīng)頭和控制頭兩部分組成。感應(yīng)頭多為金屬或玻璃外殼,內(nèi)有感測(cè)真空壓力的燈絲或其他感溫元件??刂祁^則為感應(yīng)頭提供必要的電路,并負(fù)責(zé)信號(hào)放大和信號(hào)數(shù)字化的工作。 根據(jù)測(cè)量方式的不同,皮拉尼真空計(jì)可以分為定電流式和定電壓式兩種:定電流式:...
金屬薄膜真空計(jì)在多個(gè)領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用,包括但不限于:半導(dǎo)體制造:在半導(dǎo)體制造過程中,金屬薄膜真空計(jì)用于監(jiān)測(cè)真空度,確保氣氛純凈并排除雜質(zhì),從而提高芯片的質(zhì)量和可靠性。真空冶金:在真空冶金領(lǐng)域,金屬薄膜真空計(jì)用于確保加工環(huán)境的純度和穩(wěn)定性,以確保冶金產(chǎn)品的質(zhì)量...
陶瓷薄膜真空計(jì)是一種高精度、高穩(wěn)定性的真空測(cè)量?jī)x器,它結(jié)合了陶瓷材料的優(yōu)異性能和薄膜傳感技術(shù)的敏感特性。以下是對(duì)陶瓷薄膜真空計(jì)的詳細(xì)介紹: 基本原理:陶瓷薄膜真空計(jì)的工作原理基于電容變化的原理。它通常包含一個(gè)陶瓷基片,上面沉積有一層或多層金屬薄膜作為...
真空環(huán)境在制造業(yè)中的應(yīng)用:在半導(dǎo)體制造過程中,真空鍍膜技術(shù)可以在芯片表面形成均勻、高質(zhì)量的薄膜;真空吸附技術(shù)可以用于半導(dǎo)體制造過程中的污染物去除、光學(xué)鍍膜等領(lǐng)域的涂層均勻性保證。真空設(shè)備在科研中的應(yīng)用:在物理學(xué)領(lǐng)域,高真空環(huán)境對(duì)于電子顯微鏡等精密儀...
辰儀MEMS電容真空計(jì)是辰儀完全自主開發(fā)的,采用MEMS技術(shù)開發(fā)的電容真空計(jì),該真空計(jì)是通過直接的壓力變化產(chǎn)生的電容值的變化得出真空度的一種真空測(cè)量方法,精度可達(dá)到萬分之一,且不受氣體種類的限制的優(yōu)點(diǎn),是高精度高穩(wěn)定性真空測(cè)量的理想選擇。 辰儀MEM...
金屬薄膜真空計(jì)是一種基于金屬薄膜在真空中阻力變化或熱傳導(dǎo)特性來測(cè)量壓力的真空計(jì)。以下是對(duì)金屬薄膜真空計(jì)的詳細(xì)介紹:一、基本原理金屬薄膜真空計(jì)利用金屬薄膜在真空中的特定物理性質(zhì)來測(cè)量壓力。具體來說,有兩種主要的工作原理:阻力變化原理:當(dāng)氣體分子撞擊金屬薄膜時(shí),會(huì)...
皮拉尼真空計(jì)在多個(gè)領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用,包括但不限于: 化學(xué)工業(yè):用于監(jiān)測(cè)化學(xué)反應(yīng)過程中的真空度變化。電子與微電子領(lǐng)域:用于半導(dǎo)體制造和微電子器件生產(chǎn)過程中的真空度測(cè)量。氣相沉積:用于監(jiān)測(cè)氣相沉積過程中的真空度變化。電子束焊接:用于電子束焊接過程中的真...
不同類型的真空計(jì)采用不同的物理機(jī)制進(jìn)行測(cè)量,主要包括以下幾類: 利用氣體動(dòng)力學(xué)效應(yīng)的真空計(jì):如皮拉尼電阻規(guī)和熱電偶規(guī),它們利用氣體在流動(dòng)過程中產(chǎn)生的熱效應(yīng)或電效應(yīng)來測(cè)量真空度。皮拉尼電阻規(guī)是利用電阻與溫度之間關(guān)系的原理工作的,由于不同氣壓下氣...
辰儀金屬電容真空計(jì)是完全對(duì)標(biāo)MKS的金屬電容真空計(jì)而開發(fā)的一款金屬膜片真空計(jì),已實(shí)現(xiàn)全系列部件國產(chǎn)化,產(chǎn)品測(cè)量精度接近MKS金屬電容真空計(jì)。辰儀金屬電容真空計(jì)已中芯國際等國內(nèi)FAB廠上機(jī)測(cè)試,填補(bǔ)了MKS對(duì)國內(nèi)斷供的影響。 辰儀金屬電容真空計(jì)是完全對(duì)...
金屬薄膜真空計(jì)是一種基于金屬薄膜在真空中阻力變化或熱傳導(dǎo)特性來測(cè)量壓力的真空計(jì)。以下是對(duì)金屬薄膜真空計(jì)的詳細(xì)介紹:一、基本原理金屬薄膜真空計(jì)利用金屬薄膜在真空中的特定物理性質(zhì)來測(cè)量壓力。具體來說,有兩種主要的工作原理:阻力變化原理:當(dāng)氣體分子撞擊金屬薄膜時(shí),會(huì)...
辰儀MEMS電容真空計(jì)是辰儀完全自主開發(fā)的,采用MEMS技術(shù)開發(fā)的電容真空計(jì),該真空計(jì)是通過直接的壓力變化產(chǎn)生的電容值的變化得出真空度的一種真空測(cè)量方法,精度可達(dá)到萬分之一,且不受氣體種類的限制的優(yōu)點(diǎn),是高精度高穩(wěn)定性真空測(cè)量的理想選擇。 辰儀MEM...
MEMS電容真空計(jì)在多個(gè)領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用,包括但不限于:半導(dǎo)體制造:在半導(dǎo)體制造過程中,MEMS電容真空計(jì)用于監(jiān)測(cè)真空度,確保氣氛純凈并排除雜質(zhì),從而提高芯片的質(zhì)量和可靠性。真空冶金:在真空冶金領(lǐng)域,MEMS電容真空計(jì)用于確保加工環(huán)境的純度和穩(wěn)定性,以提高冶...
辰儀MEMS皮拉尼真空計(jì)是完全對(duì)標(biāo)MKS925和MKS901P真空計(jì)而開發(fā)的MEMS皮拉尼真空計(jì),是采用MEMS芯片及數(shù)字化軟件控制技術(shù)開發(fā)的皮拉尼真空計(jì)。該真空計(jì)可用于半導(dǎo)體、光伏、等離子等對(duì)初中真空測(cè)量高精度要求的行業(yè),填補(bǔ)了MKS對(duì)國內(nèi)斷供造成的影響...
關(guān)于哪款真空計(jì)應(yīng)用廣的問題,并沒有一個(gè)準(zhǔn)確的答案,因?yàn)檎婵沼?jì)的選擇往往取決于具體的應(yīng)用場(chǎng)景、測(cè)量范圍、精度要求以及成本等因素。然而,從多個(gè)角度綜合考慮,以下幾款真空計(jì)在不同領(lǐng)域中有著廣泛的應(yīng)用:擴(kuò)散硅壓阻真空計(jì):應(yīng)用范圍:高精度加工和測(cè)量領(lǐng)域,如航空航天、半導(dǎo)...
MEMS電容真空計(jì)在多個(gè)領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用,包括但不限于:半導(dǎo)體制造:在半導(dǎo)體制造過程中,MEMS電容真空計(jì)用于監(jiān)測(cè)真空度,確保氣氛純凈并排除雜質(zhì),從而提高芯片的質(zhì)量和可靠性。真空冶金:在真空冶金領(lǐng)域,MEMS電容真空計(jì)用于確保加工環(huán)境的純度和穩(wěn)定性,以提高冶...
陶瓷薄膜真空計(jì) 安裝位置:陶瓷薄膜真空計(jì)的安裝位置應(yīng)遠(yuǎn)離振動(dòng)源和熱源,以確保測(cè)量精度和穩(wěn)定性。校準(zhǔn)和維護(hù):定期對(duì)陶瓷薄膜真空計(jì)進(jìn)行校準(zhǔn)和維護(hù),以確保其長(zhǎng)期保持測(cè)量精度和穩(wěn)定性。使用環(huán)境:避免將陶瓷薄膜真空計(jì)暴露在腐蝕性氣體或高溫環(huán)境中,以免損壞其內(nèi)部...
陶瓷薄膜真空計(jì)主要由陶瓷基片、金屬薄膜、電極、電路板和外殼等部分組成。其中,陶瓷基片是支撐薄膜和電極的基底,具有優(yōu)異的機(jī)械性能和化學(xué)穩(wěn)定性;金屬薄膜作為電容的感測(cè)元件,對(duì)真空度變化具有高度的敏感性;電極則與薄膜形成電容結(jié)構(gòu);電路板則負(fù)責(zé)將電容變化轉(zhuǎn)換為可讀...
如何選擇真空計(jì)?考慮測(cè)量范圍與精度:不同的真空計(jì)有不同的測(cè)量范圍,需要根據(jù)實(shí)際需求選擇。例如,熱陰極電離真空計(jì)適用于高真空環(huán)境(10-11 mbar),而熱阻式真空計(jì)則適用于氣壓在10-9 mbar范圍內(nèi)的測(cè)量。精度是選擇真空計(jì)時(shí)需要考慮的另一個(gè)重要因素。需要...
如何選擇真空計(jì)?考慮測(cè)量范圍與精度:不同的真空計(jì)有不同的測(cè)量范圍,需要根據(jù)實(shí)際需求選擇。例如,熱陰極電離真空計(jì)適用于高真空環(huán)境(10-11 mbar),而熱阻式真空計(jì)則適用于氣壓在10-9 mbar范圍內(nèi)的測(cè)量。精度是選擇真空計(jì)時(shí)需要考慮的另一個(gè)重要因素。需要...
結(jié)構(gòu)組成 MEMS電容真空計(jì)主要由真空規(guī)管和測(cè)量電路兩部分組成。真空規(guī)管包含彈性薄膜、上下電極、支撐結(jié)構(gòu)等組件。測(cè)量電路則用于對(duì)電容變化進(jìn)行處理,得到真空度的值。此外,MEMS電容真空計(jì)還可能包含一些輔助組件,如溫度補(bǔ)償器、校準(zhǔn)電路等,以提高測(cè)量精度...
金屬薄膜真空計(jì)是一種基于金屬薄膜在真空中阻力變化或熱傳導(dǎo)特性來測(cè)量壓力的真空計(jì)。以下是對(duì)金屬薄膜真空計(jì)的詳細(xì)介紹:一、基本原理金屬薄膜真空計(jì)利用金屬薄膜在真空中的特定物理性質(zhì)來測(cè)量壓力。具體來說,有兩種主要的工作原理:阻力變化原理:當(dāng)氣體分子撞擊金屬薄膜時(shí),會(huì)...
MEMS電容真空計(jì)在多個(gè)領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用,包括但不限于:半導(dǎo)體制造:在半導(dǎo)體制造過程中,MEMS電容真空計(jì)用于監(jiān)測(cè)真空度,確保氣氛純凈并排除雜質(zhì),從而提高芯片的質(zhì)量和可靠性。真空冶金:在真空冶金領(lǐng)域,MEMS電容真空計(jì)用于確保加工環(huán)境的純度和穩(wěn)定性,以提高冶...
常見的真空計(jì)類型包括:直接讀取式真空計(jì):如U型管壓力計(jì)、壓縮式真空計(jì)等,它們直接讀取氣體壓力,其壓力響應(yīng)(刻度)可通過自身幾何尺寸計(jì)算出來或由測(cè)力確定。這類真空計(jì)對(duì)所有氣體都是準(zhǔn)確的,且與氣體種類無關(guān)。相對(duì)真空計(jì):如熱傳導(dǎo)真空計(jì)、電離真空計(jì)等,它們...
真空計(jì)的現(xiàn)代發(fā)展技術(shù)進(jìn)步: 隨著半導(dǎo)體和微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)技術(shù)的不斷進(jìn)步,真空計(jì)的精度和穩(wěn)定性得到了提升,推動(dòng)了新一代高性能真空計(jì)的研發(fā)和應(yīng)用。智能化:現(xiàn)代真空計(jì)越來越多地集成了智能化功能,能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)測(cè)、分析和反饋數(shù)據(jù),提高了用戶的操作便利性和系...
金屬薄膜真空計(jì) 性能特點(diǎn)高靈敏度:金屬薄膜真空計(jì)通常具有較高的靈敏度,能夠準(zhǔn)確測(cè)量微小的壓力變化。寬測(cè)量范圍:雖然具體范圍取決于金屬薄膜的材質(zhì)和厚度,但金屬薄膜真空計(jì)通常具有較寬的測(cè)量范圍,適用于從低真空到高真空的不同環(huán)境。穩(wěn)定性好:在適當(dāng)?shù)木S護(hù)下,...
真空計(jì)的現(xiàn)代發(fā)展技術(shù)進(jìn)步: 隨著半導(dǎo)體和微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)技術(shù)的不斷進(jìn)步,真空計(jì)的精度和穩(wěn)定性得到了提升,推動(dòng)了新一代高性能真空計(jì)的研發(fā)和應(yīng)用。智能化:現(xiàn)代真空計(jì)越來越多地集成了智能化功能,能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)測(cè)、分析和反饋數(shù)據(jù),提高了用戶的操作便利性和系...
真空計(jì)可以按照測(cè)量原理、結(jié)構(gòu)特點(diǎn)以及使用范圍等進(jìn)行分類。其中,按照測(cè)量原理分類是最常見的方式。不同類型的真空計(jì)具有不同的測(cè)量范圍和精度。例如:波爾登規(guī)的測(cè)量范圍一般在100Pa至1atm。薄膜電容規(guī)的測(cè)量范圍一般橫跨4個(gè)量級(jí),比如可能是0.01Pa至100Pa...
真空環(huán)境在制造業(yè)中的應(yīng)用:在半導(dǎo)體制造過程中,真空鍍膜技術(shù)可以在芯片表面形成均勻、高質(zhì)量的薄膜;真空吸附技術(shù)可以用于半導(dǎo)體制造過程中的污染物去除、光學(xué)鍍膜等領(lǐng)域的涂層均勻性保證。真空設(shè)備在科研中的應(yīng)用:在物理學(xué)領(lǐng)域,高真空環(huán)境對(duì)于電子顯微鏡等精密儀...
真空計(jì)按測(cè)量原理分類 靜態(tài)液位真空計(jì)測(cè)量原理:利用U型管兩端液面差來測(cè)量壓力。彈性元件真空計(jì)測(cè)量原理:利用與真空相連的容器表面受到壓力的作用而產(chǎn)生彈性變形來測(cè)量壓力值的大小。但直接測(cè)量這樣小的力是困難的,因此可根據(jù)低壓下與氣體壓力有關(guān)的物理量的變化來...