在原核表達(dá)系統(tǒng)中外源基因不僅進(jìn)行正向轉(zhuǎn)錄，有時(shí)還存在反向轉(zhuǎn)錄（即生成反義RNA），這種現(xiàn)象往往是外源基因表達(dá)不高的重要原因。另外，在真核系統(tǒng)，某些基因也存在反向轉(zhuǎn)錄，產(chǎn)生反義RNA，參與自身表達(dá)的調(diào)控。在這些情況下，要準(zhǔn)確測(cè)定正向和反向轉(zhuǎn)錄水平就不能用雙鏈DNA探針，而只能用RNA探針或單鏈DNA探針。探針是能與特異靶分子反應(yīng)并帶有供反應(yīng)后檢測(cè)的合適標(biāo)記物的分子。利用核苷酸堿基順序互補(bǔ)的原理，用特異的基因探針即識(shí)別特異堿基序列的有標(biāo)記的一段單鏈DNA（或RNA）分子，與被測(cè)定的靶序列互補(bǔ)，以檢測(cè)被測(cè)靶序列的技術(shù)叫核酸探針技術(shù)。探針制備就是將目的基因進(jìn)行標(biāo)記。原子序數(shù)12至22的元素要在真空下進(jìn)行成分測(cè)定，原子序數(shù)12以?xún)?nèi)的元素需要增添一些特殊設(shè)備才能分析。普陀區(qū)質(zhì)量探針品牌

電子探針又稱(chēng)微區(qū)X射線(xiàn)光譜分析儀、X射線(xiàn)顯微分析儀。其原理是利用聚焦的高能電子束轟擊固體表面，使被轟擊的元素激發(fā)出特征X射線(xiàn)，按其波長(zhǎng)及強(qiáng)度對(duì)固體表面微區(qū)進(jìn)行定性及定量化學(xué)分析。主要用來(lái)分析固體物質(zhì)表面的細(xì)小顆?；蛭⑿^(qū)域，**小范圍直徑為1μm左右。分析元素從原子序數(shù)3（鋰）至92（鈾）。***感量可達(dá)10-14至10-15g。近年形成了掃描電鏡-顯微分析儀的聯(lián)合裝置，可在觀(guān)察微區(qū)形貌的同時(shí)逐點(diǎn)分析試樣的化學(xué)成分及結(jié)構(gòu)。廣泛應(yīng)用于地質(zhì)、冶金材料、水泥熟料研究等部門(mén)。如圖《電子探針示意圖》所示。金山區(qū)質(zhì)量探針維修價(jià)格它的作用是選擇和確定分析點(diǎn)。

用此探針在DNA文庫(kù)中篩選，陽(yáng)性克隆即是目標(biāo)蛋白的編碼基因。值得一提的是真核細(xì)胞和原核細(xì)胞DNA組織有所不同。真核基因中含有非編碼的內(nèi)含子序列，而原核則沒(méi)有。因此，真核基因組DNA探針用于檢測(cè)基因表達(dá)時(shí)雜交效率要明顯低于cDNA探針。DNA探針（包括cDNA探針）的主要優(yōu)點(diǎn)有下面三點(diǎn)：①這類(lèi)探針多克隆在質(zhì)粒載體中，可以無(wú)限繁殖，取之不盡，制備方法簡(jiǎn)便。②DNA探針不易降解（相對(duì)RNA而言），一般能有效抑制DNA酶活性。③DNA探針的標(biāo)記方法較成熟，有多種方法可供選擇，如缺口平移，隨機(jī)引物法，PCR標(biāo)記法等，能用于同位素和非同位素標(biāo)記。

血凝素與生物素有非常高的親和性，當(dāng)血凝素標(biāo)記上過(guò)氧化物酶或堿性磷酸酶，經(jīng)雜交反應(yīng)**終形成探針-生物素-血凝素酶復(fù)合物（ABC法），酶催化底物顯色，觀(guān)察結(jié)果。ABC法底物顯色生成不溶物，以便觀(guān)測(cè)結(jié)果。酶標(biāo)記法復(fù)雜、重復(fù)性差，成本高，但便于運(yùn)輸、保存，靈敏度與放射物標(biāo)記法相當(dāng)。探針標(biāo)記方法①缺口平移標(biāo)記法。利用的是DNA聚合酶I能修復(fù)DNA鏈的功能。該法先由DNaseI在DNA雙鏈上隨機(jī)切出切口，然后DNA聚合酶I沿缺口水解5´端核苷酸，同時(shí)在3´端修復(fù)加入被標(biāo)記核苷酸，切口平行推移。缺口平移法快速、簡(jiǎn)便、成本相對(duì)較低、比活性相對(duì)較高、標(biāo)記均勻，多用于大分子DNA標(biāo)記，(>1000bp比較好)，但單鏈DNA、RNA不能用該法標(biāo)記。探針卡應(yīng)用在IC尚未封裝前，針對(duì)裸晶系以探針做功能測(cè)試，篩選出不良品、再進(jìn)行之后的封裝工程。

B、在線(xiàn)測(cè)試探針：PCB線(xiàn)路板安裝元器件后的檢測(cè)探針；**產(chǎn)品的**技術(shù)還是掌握在國(guó)外公司手中，國(guó)內(nèi)部分探針產(chǎn)品已研發(fā)成功，可替代進(jìn)口探針產(chǎn)品；C、微電子測(cè)試探針：即晶圓測(cè)試或芯片IC檢測(cè)探針，**技術(shù)還是掌握在國(guó)外公司手中，國(guó)內(nèi)生產(chǎn)廠(chǎng)商積極參與研發(fā)，但只有一小部分成功生產(chǎn)。探針主要類(lèi)型：懸臂探針和垂直探針。懸臂探針：劈刀型（Blade Type）和環(huán)氧樹(shù)脂型（Epoxy Type）垂直探針：垂直型（Vertical Type）1.ICT探針 （ICT series Probes）一般直徑在2.54mm-1.27mm之間，有業(yè)內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)稱(chēng)呼100mil,75mil,50mil,還有更特別的直徑只有0.19mm,主要用于在線(xiàn)電路測(cè)試和功能測(cè)試．也稱(chēng)ICT測(cè)試和FCT測(cè)試．也是目應(yīng)用較多的一種探針．分析元素從原子序數(shù)3（鋰）至92（鈾）。感量可達(dá)10-14至10-15g。普陀區(qū)質(zhì)量探針品牌

分析范圍廣。Z>4其中，波譜：Be~U，能譜：Na~U。普陀區(qū)質(zhì)量探針品牌

（1）電子光學(xué)系統(tǒng)。電子束直徑0.1～1μm，電子束穿透深度1～3μm。被激發(fā)原子發(fā)射特征X射線(xiàn)譜過(guò)程如下：圍繞原子核運(yùn)動(dòng)的內(nèi)層電子，被電子束的電子轟擊后，其他外層電子為補(bǔ)充轟擊出的電子而發(fā)生躍遷，在躍遷過(guò)程中釋放出能量，即發(fā)射出X射線(xiàn)。（2）X射線(xiàn)譜儀。測(cè)量各種元素產(chǎn)生的X射線(xiàn)波長(zhǎng)和強(qiáng)度，并以此對(duì)微小體積中所含元素進(jìn)行定性和定量分析。特征X射線(xiàn)圖像顯像管的原理是：X射線(xiàn)束入射到一已知晶面間距的晶體上（X射線(xiàn)分光光度計(jì)的彎曲晶體上），經(jīng)衍射后各種波長(zhǎng)的X射線(xiàn)按不同的布拉格角彼此分開(kāi)，因此如轉(zhuǎn)動(dòng)晶體，改變衍射角，同時(shí)以?xún)杀队诰w的轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動(dòng)計(jì)數(shù)器，就可以依次測(cè)量出各種元素所產(chǎn)生的X射線(xiàn)波長(zhǎng)和強(qiáng)度，達(dá)到定性和定量分析的目的。普陀區(qū)質(zhì)量探針品牌

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