其中，電氣(Electrical) 、協(xié)議(Protocol) 、配置(Configuration)等行為定義了芯片的基本 行為，這些要求合在一起稱為Base規(guī)范，用于指導(dǎo)芯片設(shè)計(jì)；基于Base規(guī)范，PCI-SIG還會(huì) 再定義對(duì)于板卡設(shè)計(jì)的要求，比如板卡的機(jī)械尺寸、電氣性能要求，這些要求合在一起稱為 CEM(Card Electromechanical)規(guī)范，用以指導(dǎo)服務(wù)器、計(jì)算機(jī)和插卡等系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員的開 發(fā)。除了針對(duì)金手指連接類型的板卡，針對(duì)一些新型的連接方式，如M.2、U.2等，也有一 些類似的CEM規(guī)范發(fā)布。PCI-E 3.0測(cè)試接收端的變化；遼寧PCI-E測(cè)試系列

這個(gè)軟件以圖形化的界面指導(dǎo)用戶完 成設(shè)置、連接和測(cè)試過程，除了可以自動(dòng)進(jìn)行示波器測(cè)量參數(shù)設(shè)置以及生成報(bào)告外，還提供 了Swing、Common Mode等更多測(cè)試項(xiàng)目，提高了測(cè)試的效率和覆蓋率。自動(dòng)測(cè)試軟件使 用的是與SigTest軟件完全一樣的分析算法，從而可以保證分析結(jié)果的一致性。圖4.15是 PCIe4.0自動(dòng)測(cè)試軟件的設(shè)置界面。

主板和插卡的測(cè)試項(xiàng)目針對(duì)的是系統(tǒng)設(shè)備廠商，需要使用PCI-SIG的測(cè)試夾具測(cè) 試，遵循的是CEM的規(guī)范。而對(duì)于設(shè)計(jì)PCIe芯片的廠商來說，其芯片本身的性能首先要 滿足的是Base的規(guī)范，并且需要自己設(shè)計(jì)針對(duì)芯片的測(cè)試板。16是一個(gè)典型的PCIe 芯片的測(cè)試板，測(cè)試板上需要通過扇出通道(Breakout Channel)把被測(cè)信號(hào)引出并轉(zhuǎn)換成 同軸接口直接連接測(cè)試儀器。扇出通道的典型長(zhǎng)度小于6英寸，對(duì)于16Gbps信號(hào)的插損 控制在4dB以內(nèi)。為了測(cè)試中可以對(duì)扇出通道的影響進(jìn)行評(píng)估或者去嵌入，測(cè)試板上還應(yīng) 設(shè)計(jì)和扇出通道疊層設(shè)計(jì)、布線方式盡量一致的復(fù)制通道(Replica Channel),復(fù)制通道和扇 出通道的區(qū)別是兩端都設(shè)計(jì)成同軸連接方式，這樣可以通過對(duì)復(fù)制通道直接進(jìn)行測(cè)試 推測(cè)扇出通道的特性。 遼寧PCI-E測(cè)試系列PCI-E 3.0測(cè)試接收端容限測(cè)試；

按照測(cè)試規(guī)范的要求，在發(fā)送信號(hào)質(zhì)量的測(cè)試中，只要有1個(gè)Preset值下能夠通過信 號(hào)質(zhì)量測(cè)試就算過關(guān)；但是在Preset的測(cè)試中，則需要依次遍歷所有的Preset,并依次保存 波形進(jìn)行分析。對(duì)于PCIe3.0和PCIe4.0的速率來說，由于采用128b/130b編碼，其一致性測(cè)試碼型比之前8b/10b編碼下的一致性測(cè)試碼型要復(fù)雜，總共包含36個(gè)128b/130b的   編碼字。通過特殊的設(shè)計(jì)， 一致性測(cè)試碼型中包含了長(zhǎng)“1”碼型、長(zhǎng)“0”碼型以及重復(fù)的“01” 碼型，通過對(duì)這些碼型的計(jì)算和處理，測(cè)試軟件可以方便地進(jìn)行預(yù)加重、眼圖、抖動(dòng)、通道損   耗的計(jì)算。 11是典型PCle3.0和PCIe4.0速率下的一致性測(cè)試碼型。

在之前的PCIe規(guī)范中，都是假定PCIe芯片需要外部提供一個(gè)參考時(shí)鐘(RefClk),在這 種芯片的測(cè)試中也是需要使用一個(gè)低抖動(dòng)的時(shí)鐘源給被測(cè)件提供參考時(shí)鐘，并且只需要對(duì) 數(shù)據(jù)線進(jìn)行測(cè)試。而在PCIe4.0的規(guī)范中，新增了允許芯片使用內(nèi)部提供的RefClk(被稱 為Embeded RefClk)模式，這種情況下被測(cè)芯片有自己內(nèi)部生成的參考時(shí)鐘，但參考時(shí)鐘的 質(zhì)量不一定非常好，測(cè)試時(shí)需要把參考時(shí)鐘也引出，采用類似于主板測(cè)試中的Dual-port測(cè) 試方法。如果被測(cè)芯片使用內(nèi)嵌參考時(shí)鐘且參考時(shí)鐘也無法引出，則意味著被測(cè)件工作在 SRIS(Separate Refclk Independent SSC)模式，需要另外的算法進(jìn)行特殊處理。PCI-E3.0的接收端測(cè)試中的Repeater起作用？

綜上所述，PCIe4.0的信號(hào)測(cè)試需要25GHz帶寬的示波器，根據(jù)被測(cè)件的不同可能會(huì) 同時(shí)用到2個(gè)或4個(gè)測(cè)試通道。對(duì)于芯片的測(cè)試需要用戶自己設(shè)計(jì)測(cè)試板；對(duì)于主板或者  插卡的測(cè)試來說，測(cè)試夾具的Trace選擇、測(cè)試碼型的切換都比前代總線變得更加復(fù)雜了；

在數(shù)據(jù)分析時(shí)除了要嵌入芯片封裝的線路模型以外，還要把均衡器對(duì)信號(hào)的改善也考慮進(jìn) 去。PCIe協(xié)會(huì)提供的SigTest軟件和示波器廠商提供的自動(dòng)測(cè)試軟件都可以為PCle4. 0的測(cè)試提供很好的幫助。 在PCI-E的信號(hào)質(zhì)量測(cè)試中需要捕獲多少的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析？江蘇PCI-E測(cè)試價(jià)格多少

PCI-E測(cè)試信號(hào)完整性測(cè)試解決方案；遼寧PCI-E測(cè)試系列

克勞德高速數(shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室致敬信息論創(chuàng)始人克勞德·艾爾伍德·香農(nóng)，以成為高數(shù)信號(hào)傳輸測(cè)試界的帶頭者為奮斗目標(biāo)。克勞德高速數(shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室重心團(tuán)隊(duì)成員從業(yè)測(cè)試領(lǐng)域10年以上。實(shí)驗(yàn)室配套KEYSIGHT/TEK主流系列示波器、誤碼儀、協(xié)議分析儀、矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀及附件，使用PCIE/USB-IF/WILDER等行業(yè)指定品牌夾具。堅(jiān)持以專業(yè)的技術(shù)人員，嚴(yán)格按照行業(yè)測(cè)試規(guī)范，配備高性能的權(quán)能測(cè)試設(shè)備，提供給客戶更精細(xì)更權(quán)能的全方面的專業(yè)服務(wù)?？藙诘赂咚贁?shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室提供具深度的專業(yè)知識(shí)及一系列認(rèn)證測(cè)試、預(yù)認(rèn)證測(cè)試及錯(cuò)誤排除信號(hào)完整性測(cè)試、多端口矩陣測(cè)試、HDMI測(cè)試、USB測(cè)試，PCI-E測(cè)試等方面測(cè)試服務(wù)。遼寧PCI-E測(cè)試系列