在光學(xué)干涉測量中，相位差測量儀是重要設(shè)備之一。干涉儀通過分析兩束光的相位差來測量光學(xué)元件的表面形貌或折射率分布。相位差測量儀能夠以納米級分辨...
雙折射應(yīng)力儀在手機(jī)產(chǎn)業(yè)鏈中的應(yīng)用已從單純的質(zhì)檢工具發(fā)展為工藝開發(fā)的重要輔助設(shè)備。在新材料研發(fā)階段，研究人員利用應(yīng)力儀觀察不同配方玻璃的應(yīng)力特...
雙折射應(yīng)力儀是檢測透明或半透明材料內(nèi)部應(yīng)力的高效工具，尤其適用于手機(jī)玻璃、攝像頭鏡片等精密光學(xué)元件。其工作原理基于應(yīng)力雙折射效應(yīng)，當(dāng)偏振光通...
相位差測量儀還可用于光學(xué)薄膜的相位延遲分析。光學(xué)薄膜廣泛應(yīng)用于增透膜、反射膜和濾光片等器件中，其相位延遲特可直接影響光學(xué)系統(tǒng)的性能。相位差測...
千宇光學(xué)專注于偏振光學(xué)應(yīng)用、光學(xué)解析、光電探測器和光學(xué)檢測儀器的研發(fā)與制造。事業(yè)涵蓋光電材料、光學(xué)顯示、半導(dǎo)體、薄膜透鏡、印刷涂料等行業(yè)。 產(chǎn)品覆蓋LCD、OLED、VR、AR等上中下游各段光學(xué)測試需求，并于國內(nèi)率先研發(fā)相位差測試儀打破國外設(shè)備壟斷，目前已廣泛應(yīng)用于全國光學(xué)頭部品牌及其制造商。 千宇光學(xué)研發(fā)中心由光學(xué)博士團(tuán)隊組成，掌握自主研發(fā)的光學(xué)檢測技術(shù), 測試結(jié)果可溯源至國家計量標(biāo)準(zhǔn)。千宇以提供高價值產(chǎn)品及服務(wù)為發(fā)展原動力， 通過持續(xù)輸出高速度、高精度、高穩(wěn)定的光學(xué)檢測技術(shù)，優(yōu)化產(chǎn)品品質(zhì)，成為精密光學(xué)產(chǎn)業(yè)有價值的合作伙伴。
